cs系列分光辐射度计其核心一是应用hamamatsu的te-cooled背照式制冷ccd探测器，二是对称式低杂散光光路设计。相对于一般的高精度快速光谱仪，具有高灵敏度、低杂散光、宽动态范围、高重复性稳定性等优点。适用于公司科研、国家地方光电实验室以及专业检测机构等。
cs系列分光辐射度计 产品详情
cs系列分光辐射度计 特性极低的杂散光结合光路设计技术实现分光光路与传感器的完美匹配，同时结合的fct技术，并将nist杂散光校正技术辩证结合，使杂散光水平比原有水平降低超过一个数量级。
高灵敏度采用hamamatsu科研级高灵敏度阵列探测器，背照式ccd传感器，具有内部te致冷、binning等优良特性。
多种型号选择满足你不同的应用需求：
工业级采用cs-1000光谱仪，该系统价格经济，通过一系列可以互换的光测量附件即可轻松实现定制化，可溯源的光谱标准灯可以在380-780纳米的范围内方便的进行内部系统校准和验证工作。
实验级采用cs-4000光谱仪，具有强大的电子系统:带有自动清零功能的16位a/d转换器(增强的电子暗电流校正);采用eeprom存储校正系数,方便操作;电子快门可使积分时间短达到3.8毫秒--有效地避免探测器饱和.而且cs-4000的信噪比可以达到300:1,光学分辨率(fwhm)为0.03-8.4nm(依赖于选用的光栅和入射狭缝)。
科研级采用cs-6500光谱仪，采用二维像素阵列探测器。像素列的叠加使得信噪比大大提升（1000：1），外围电路将信号数字化添加使得探测器的信号处理速度与其他线性ccd相比更为快速。te制冷型探测器（低至-15 °c）具有低噪音、低暗信号的特点，低亮度级别测试、长积分时间从8毫秒到15分钟（类似于照相机的快门速度）得以实现。
cs系列分光辐射度计 规格
型号
cs-1000
cs-4000
cs-6500
探测器范围
350-800纳米
350-1050纳米
350-1100纳米
传感器
cmos传感器
东芝tcd1304ap线性ccd阵列
热电制冷ccd（薄型背照式）
像素
1024像素
3648像素
1044×64像素
波长范围
350-800纳米
350-1050纳米
350-1100纳米
信噪比
150：1
300：1全光谱
1000:1全光谱
a/d分辨率
14位
16位
16位
积分时间
3.8毫秒-10秒
3.8毫秒-10秒
8毫秒-15分钟
杂散光
<0.05%
<0.05%
<0.05%
校正线性度
>99.8%
>99.8%
>99.8%
色温范围
1500-35000k
1500-35000k
1500-35000k
色度精度
±0.0003（标准a光源）
±0.0003(标准a光源)
±0.0003(标准a光源)
*亮度和色度的测量基于雷云光电条件下(使用标准lcd显示屏(6500k, 9300k))
*规格参数与外观有可能在没有预先通知的情况下予以变更，恕不另行通知。